液晶面板表面缺陷及檢測方法與檢測設備分析

在工業(yè)生產中，產品表面經常遇到的不良品類型，大多是裂痕、劃痕、臟污等。而這些不良的缺陷檢測，隨著機器視覺行業(yè)的發(fā)展，技術的提高，已經有很大的突破，不再是檢測的難點。

目前在3C電子領域，例如金屬面、玻璃面、手屏面板、液晶面板等行業(yè)表面檢測上應用廣泛。但是，由于這些缺陷形狀不規(guī)則、深淺對比度低，而且往往會被產品表面的自然紋理或圖案所干擾。

表面劃痕通常可分為三大類：

第一類劃痕

從外觀上較易辨認，灰度變化跟周圍區(qū)域對比也比較明顯?？梢赃x擇較小的閾值精缺陷部分直接標記。

第二類劃痕

部分灰度值變化并不明顯，整幅圖像灰度比較平均，劃痕面積也比較小，只有幾個像素點，灰度也只比周圍圖像稍低，很難分辨?？梢詫υ瓐D像進行均值濾波，得到較平滑的圖像，并與原圖像相減，當其差的絕對值大于閾值時就將其置為目標，并對所有的目標進行標記，計算其面積，將面積過小的目標去掉，剩下的就標記為劃痕。

第三類劃痕

各部分灰度差異較大，形狀通常呈長條形，如果在一幅圖像上采取固定閾值分割，則標記的缺陷部分會小于實際部分。

由于在工業(yè)檢測中圖像的多樣性，對于每一種圖像，都要經過分析綜合考慮各種手段來進行處理達到效果。

一般來說，劃痕部分的灰度值和周圍正常部分相比要暗，也就是劃痕部分灰度值偏??；而且，大多都是在光滑表面，所以整幅圖的灰度變化總體來說非常均勻，缺乏紋理特征。

因此，劃痕的檢測一般使用基于統(tǒng)計的灰度特征或者閾值分割的方法將劃痕部分標出。

行業(yè)應用：

玻璃，金屬，液晶板、手機屏幕、塑料等等表面檢測。

半導體材料品質檢測設備之目視檢查燈YP-150I介紹

是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中費人工的成形製品表面
的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。

概要

　　1.　可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。
　　2.　因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
　　3.　冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3
　　4.　二段切換構造，可用按扭切換高照明観察及低照明観察。

日本sena lamp高照度鹵素強光燈185FI手機屏幕檢查燈

高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。

適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。

標準構成如下。

照度：照射距離　310mm、照射直徑徑　55mmφ時照度在　400，000　Lux以上）

光源：直流點燈　17V/185W　鹵素燈

照度調整：連續(xù)可調至照度的　20%

冷卻方式：強制空冷

使用溫度范囲：0～40℃

電源電圧：AC　95V～AC　260V，50/60Hz

功率：250W

尺寸：光源　136mm　H×112mm　W×150mm　D

電源　229mm　H×90mm　W×250mm　D

重量：光源2.3kg

電源3.6kg

立桿5.0kg